什么是光譜反射率測(cè)試設(shè)備？測(cè)量原理是什么？

　　光譜反射率測(cè)試設(shè)備集光譜、反射率、飽和度、L、A、B等測(cè)量功能于一體。可以測(cè)試透明或半透明平板狀物體的透射率以及顏色值，還可以測(cè)試透明或不透明平面平板狀物體的反射率以及顏色值，并可計(jì)算出色差。可以用于測(cè)量物體的反射率、反射率顏色和化學(xué)樣品中的成分信息，是為涂料、顏料、油墨、平面樣品、硅晶片、鍍膜表面、鏡面鋁鏡、油漆、塑料、布料等化工行業(yè)。

　　本公司提供的kSA SpectR光譜反射率測(cè)試設(shè)備是一種用于測(cè)量光譜絕對(duì)反射率，L*a*b*成色值和生長(zhǎng)速率的非接觸式測(cè)量設(shè)備。該工具具有多種在線監(jiān)控和過(guò)程控制的應(yīng)用功能，包括垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL)，分布式布拉格反射器(DBR)和其他一些復(fù)雜的設(shè)備結(jié)構(gòu)。該設(shè)備的光學(xué)鏡組被配置為鏡面反射的幾何形狀，使用的測(cè)量原理：薄膜每生長(zhǎng)出一個(gè)新layer，程序就會(huì)自動(dòng)擬合，將已有的所有基底和薄膜layer視為一個(gè)新的虛擬基底。可以同時(shí)以多個(gè)波長(zhǎng)進(jìn)行測(cè)量，每個(gè)波長(zhǎng)都具有潛在的*優(yōu)勢(shì)。此工具可在選定的波長(zhǎng)范圍內(nèi)輕松測(cè)量自定義光譜特征，如反射率的*值、拐點(diǎn)或基線散射水平。